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Physik Instrumente

Piezoelektrischer Scanner mit Ablenkwinkeln bis zu 1,2°

02.06.2008 | Redakteur: Jürgen Schreier

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Physik Instrumente hat die schnellen Kipp-Plattformen der Serie S-330 um größere Ablenkungen erweitert: Zusätzlich zu den Kippwinkeln von bislang 2 mrad sind jetzt auch Varianten mit 5 beziehungsweise 10 mrad erhältlich.

Die hohe Resonanzfrequenz beträgt bei allen Varianten mehr als 3 kHz und ermöglicht dadurch sehr schnelle Scanbewegungen. Die Dynamik ist für die beiden orthogonalen Kippachsen aufgrund des symmetrischen Aufbaus identisch. Positionsgeregelte Systeme erlauben die präzise und stabile Positionierung mit Auflösungen von bis zu 0,05 µrad.

Schnelle Kipp-Plattformen werden vornehmlich für die Strahlsteuerung und -stabilisierung in den unterschiedlichsten Anwendungen eingesetzt:

  • schnelle optische Schalter,
  • aktive und adaptive Optik,
  • Laserstrahlsteuerung, Laserscanning,
  • Interlacing, Dithering,
  • Korrektur von Polygonspiegelfehlern,
  • Bildstabilisierung,
  • Laserstrahlstabilisierung.

Mit dem E-616 steht ein eigens für Piezokippspiegel entwickeltes System zu Verfügung, das die Funktionen eines mehrkanaligen Reglers und Verstärkers vereint. Diese flexible Elektronik kann sowohl für Kippspiegel mit Drei- als auch mit Vierbein-Design verwendet werden. Flexibel ist der Controller auch deshalb, weil mittels interner Hardware eine Koordinatentransformation durchgeführt wird, so dass die Ansteuerung direkt proportional zum Ablenkwinkel erfolgen kann. Dadurch entfällt für den Anwender die Transformation per Software oder externer Verschaltung.

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