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Schichtdickenmessung Sherlock Holmes für Metallschichten

| Redakteur: Peter Königsreuther

Helmut Fischer präsentiert Röntgenfluoreszenzmessgeräte namens X-Ray, die es ermöglichen 24 Legierungsschichten auf einem Bauteil zu erkennen und zu bewerten.

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Ein Beispiel für ein X-Ray-Gerät ist dieses Fischerscope xdal, das auch dünne Schichten misst und zur Spurenanalyse in der Schmuck- und Elektronikindustrie genutzt werden kann.
Ein Beispiel für ein X-Ray-Gerät ist dieses Fischerscope xdal, das auch dünne Schichten misst und zur Spurenanalyse in der Schmuck- und Elektronikindustrie genutzt werden kann.
(Bild: Helmut Fischer)

Röntgenfluoreszenzgeräte zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse sind ein Messeschwerpunkt bei Helmut Fischer, wie es heißt. Durch die exakte mathematische Modellierung aller physikalischen Vorgänge innerhalb dieser Messtechnik und durch den Einsatz moderner Soft- und Hardware seien die als X-RAY bezeichneten Geräte unvergleichlich leistungsfähig.

Die spezielle Software Winftm sei das Herzstück der Technik, denn sie ermögliche die Dickenmessung und Analyse auch sehr komplexer Schichtsysteme auch ohne Kalibriernormale und mit voraussagbarer Messgenauigkeit. Die Winftm Version 6-Basic ermöglicht die Dickenmessung und Materialanalyse von maximal 24 Einzelschichten und 24 verschiedenen Elementen. Anwendungsbeispiele sind Einfachschichten aus Zn, Ni, Cu, Ag, Sn sowie binäre und ternäre Legierungssysteme oder die Ionenanlayse von Galvanikbädern.

Helmut Fischer GmbH auf der Hannover-Messe 2013: Halle 3, Stand Stand E40

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