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Grundlage für die Ermittlung der Positioniergenauigkeit sind in der Regel die Abnahmekriterien nach VDI/DGQ 3441, für die Geradheitsmessung die Kriterien nach VDI/DGQ 2617. Neuere Richtlinien beschreibt auch die DIN ISO 230-2. Da bei der hochgenauen Vermessung von Linearsystemen häufig auf Vergleichsdaten zurückgegriffen wird, hat derzeit die Auswertung nach VDI-Regeln noch die größere Bedeutung.
Abweichungen werden mechanisch oder in der Steuerung korrigiert
Bei der Führungsgenauigkeit von Linearsystemen sind insbesondere Winkelfehler, Nick- und Gierwinkel sowie die daraus resultierende Rotation einer Führung von Interesse. Neueste Laser-Interferometer liefern zudem dynamische Kennwerte als Weg-Zeit-, Geschwindigkeit-Zeit- und Beschleunigung-Zeit-Diagramme. Vor allem bei Systemen für hochdynamische Anwendungen spielen diese Werte eine entscheidende Rolle.
Auf Basis der Abweichungen lassen sich die vermessenen Systeme sehr präzise korrigieren. Dies geschieht zum einen mechanisch, indem die Baugruppen und Komponenten optimal zueinander ausgerichtet werden. Zum anderen werden beim sogenannten Mapping systematische Abweichungen wie die Umkehrspanne oder die Positionsabweichungen über eine Fehlertabelle in der Maschinensteue-rung kompensiert.
Präzise Messergebnisse lohnen sich
Mit Hilfe der Laservermessung lässt sich eine extrem hohe Präzision über den kompletten Bewegungsprozess hinweg sicherstellen. So werden hochpräzise Fertigungs- und Prüfprozesse zum Teil überhaupt erst möglich.
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