Berührungsloses Messverfahren reduziert die Abrichtzyklen

Anbieter zum Thema

Conductix-Wampfler GmbH

Renishaw GmbH

AGTOS Gesellschaft für technische Oberflächensysteme mbH GmbH

Peter Wolters GmbH

Darüber hinaus ist der Schleifscheibenverschleiß innerhalb eines laufenden Schleifprozesses nur in seltenen Fällen konstant. Daher ist es notwendig, den Schleifprozess innerhalb festgelegter Intervalle zu unterbrechen und durch Abrichten der Schleifscheiben die Prozessunsicherheiten zu beseitigen. Dies führt zu erheblichen Kapazitätsverlusten und darüber hinaus zu zusätzlichen Kosten für Verbrauchsgüter (beispielsweise bei Schleifscheiben und Abrichtwerkzeugen).

Bestimmen der Scheibenposition während des Schleifens

Mit dem neuen Messverfahren ist es erstmals möglich, die Schleifscheibenposition auf der Oberfläche während des Schleifprozesses zu messen. Das patentierte System ermöglicht erstmals das Vermessen der Schleifscheibenoberfläche selbst bei einer niedrigen Werkstückdicke von 2,0 mm.

Hervorzuheben ist dabei die berührungslose Abtastung der Schleifscheibenoberfläche bei Umfangsgeschwindigkeiten von 45 m/s sowie einer Umgebung, die durch erhebliche Verunreinigung mit Kühlschmierstoff, Spänen und Schleifkorn gekennzeichnet ist. Selbst unter den genannten Rahmenbedingungen wird eine stabile Messung der Schleifscheibenposition mit einer Genauigkeit von 5 μm erreicht.

Innerhalb einer Testfertigung konnten die nachstehenden Verbesserungen im Vergleich zu einem Standard-Schleifprozess erreicht werden:

• Reduktion der Abrichtzyklen um 70%;

• Reduktion der Schleifkosten um 35%;

• Erhöhung der Kapazität des Schleifprozesses um 25%.

Dies führt zu Verbesserungen der Kostensituation im Prozess von mehr als 100000 Euro pro Jahr, abhängig von der jeweiligen Kundenanwendung.

(ID:25457700)